Yhdysvaltain energiaministeriö (DOE) on äskettäin julkaissut kolmannen luotettavuusraporttinsa LED-ajureista, jotka perustuvat pitkän aikavälin nopeutettuun käyttöiän testaukseen. Yhdysvaltain energiaministeriön Solid State Lightingin (SSL) tutkijat uskovat, että uusimmat tulokset vahvistavat AST (Accelerated Pressure Test) -menetelmän erinomaisen suorituskyvyn erilaisissa ankarissa olosuhteissa. Lisäksi testitulokset ja mitatut vikatekijät voivat kertoa kuljettajien kehittäjille asiaankuuluvista strategioista luotettavuuden parantamiseksi.

Kuten hyvin tiedetään, LED-ajurit, kutenLED-komponentit itse, ovat tärkeitä optimaalisen valonlaadun kannalta. Sopiva ohjainrakenne voi poistaa välkkymisen ja tarjota tasaisen valaistuksen. Ja kuljettaja on myös todennäköisin komponenttiLED valottai valaisimien toimintahäiriöitä. Tajuttuaan ajurien tärkeyden DOE aloitti vuonna 2017 pitkän tähtäimen ajuritestausprojektin. Tämä projekti sisältää yksikanavaisia ​​ja monikanavaisia ​​ajureita, joita voidaan käyttää laitteiden, kuten kattourien, kiinnittämiseen.

Yhdysvaltain energiaministeriö on aiemmin julkaissut kaksi raporttia testausprosessista ja edistymisestä, ja nyt se on kolmas testidataraportti, joka kattaa tuotteen testaustulokset AST-olosuhteissa 6000-7500 tunnin ajan.

Itse asiassa alalla ei ole niin paljon aikaa testata normaaleissa käyttöympäristöissä moneen vuoteen. Päinvastoin, Yhdysvaltain energiaministeriö ja sen alihankkija RTI International ovat testanneet taajuusmuuttajaa niin sanotussa 7575-ympäristössä – sekä sisäilman kosteus että lämpötila pidetään jatkuvasti 75 °C:ssa. Tämä testi sisältää kaksi kuljettajan testausvaihetta. kanava. Yksivaiheinen suunnittelu maksaa vähemmän, mutta siitä puuttuu erillinen piiri, joka ensin muuntaa vaihtovirran tasavirtaan ja sitten säätää virtaa, mikä on ainutlaatuista kaksivaiheisessa suunnittelussa.

Yhdysvaltain energiaministeriö raportoi, että 11 eri asemalla tehdyissä testeissä kaikkia asemia käytettiin 7575-ympäristössä 1000 tunnin ajan. Kun taajuusmuuttaja sijaitsee ympäristöhuoneessa, taajuusmuuttajaan kytketty LED-kuorma sijaitsee ulkoympäristön olosuhteissa, joten AST-ympäristö vaikuttaa vain taajuusmuuttajaan. DOE ei yhdistänyt toiminta-aikaa AST-olosuhteissa käyttöaikaan normaaleissa ympäristöissä. Ensimmäinen laiteerä epäonnistui 1 250 käyttötunnin jälkeen, vaikka jotkut laitteet ovat edelleen toiminnassa. 4800 tunnin testauksen jälkeen 64 % laitteista epäonnistui. Kuitenkin, ottaen huomioon ankara testausympäristö, nämä tulokset ovat jo erittäin hyviä.

Tutkijat ovat havainneet, että useimmat viat ilmenevät ajurin ensimmäisessä vaiheessa, erityisesti tehokertoimen korjauksessa (PFC) ja sähkömagneettisten häiriöiden (EMI) vaimennuspiireissä. Molemmissa ajurin vaiheissa MOSFET:issä on myös vikoja. Sen lisäksi, että tämä AST määrittää alueita, kuten PFC ja MOSFET, jotka voivat parantaa ajurin suunnittelua, se osoittaa myös, että viat voidaan yleensä ennustaa kuljettajan suorituskyvyn seurannan perusteella. Esimerkiksi tehokertoimen ja ylijännitevirran valvonta voi havaita varhaiset viat etukäteen. Vilkkumisen lisääntyminen osoittaa myös, että toimintahäiriö on tulossa.

DOE:n SSL-ohjelma on jo pitkään tehnyt tärkeitä SSL-alan testauksia ja tutkimusta, myös Gatewayssa.